东京电子贸易株式会社

东京电子贸易株式会社（TET）是一家总部位于日本东京都立川市的公司，专业从事静电放电（ESD）对策以及高压、高速脉冲技术。公司创立于1977年，长期为众多半导体企业和电子元器件制造商提供静电及ESD对策支持，并在此基础上积累技术，开展测量仪器和分析装置的制造与销售。其业务涵盖ESD测试、静电对策咨询与产品、测试室租赁服务、定制化服务以及海外进出口贸易。 公司产品组合以半导体和电子元器件针对静电破坏（ESD/CDM）和闩锁（Latch-Up）的可靠性评估为核心，产品线包括全自动ESD/CDM/闩锁测试仪、手动ESD和CDM测试仪、TLP（传输线脉冲）测试系统、CMR测试仪以及晶圆探针台，符合JEITA、JEDEC、ESDA、AEC等国内及国际标准。TET还提供ESD事件检测器和带电监测仪，如EV-10A系列，用于检测生产和组装线上的ESD及动态感应带电（DCI）事件，帮助提升良率。 TET以“工匠精神”为理念——即日复一日努力把产品做得更好的精神——并在这一理念下与客户共同致力于制造。除设备销售外，公司还提供技术支持、试验设备租赁以及试验评估承包服务。2026年，公司宣布对其ESD试验装置进行更新，并在公司内部开设ESD试验测试室，自2026年4月起以“ESD试验测试室租赁服务”形式提供，同时开展限期的更新启动纪念活动。公司为私人持股，主要在日本运营，同时也开展海外进出口贸易。

东京电子贸易株式会社于1977年7月19日在日本东京创立，初始资本为400万日元。根据公司自身的历史记载，公司最初作为美国Autek System和Interface Technology公司的日本代理商，销售其产品，同时开始系统产品的开发。此后数年间，公司在东京都内多次迁址并增资：1978年增至800万日元，1983年增至1200万日元，1985年增至1600万日元。 1984年，TET推出LSI静电破坏（ESD）评价系统，标志着其对半导体行业ESD及静电对策技术的关注不断加深。1987年开发出闩锁测试仪。1990年，在VEC个别保证下开发出FACT IV，并开发出AC参数自动测量系统“TECP-8”。1991年，同样在VEC个别保证下，开发出面向器件及电子元器件测试的CDM测试仪“ESPIER1000”。1996年，公司获得与ESD相关的东京都表彰。 数十年来，TET为众多半导体企业和电子元器件制造商提供ESD及静电对策支持。基于在此过程中积累的高压、高速脉冲技术，公司扩展到测量仪器和分析系统的制造与销售。目前的业务包括ESD测试、静电对策产品与服务、测试室租赁、定制化服务以及海外进出口。其产品范围涵盖全自动ESD/CDM/闩锁测试仪、多引脚高速测试仪、ESD/CDM/TLP模拟器、TLP测试系统、CMR测试仪和晶圆探针台，符合JEITA、JEDEC、ESDA、AEC标准。2026年，公司更新了ESD试验装置，并开设公司内部ESD试验测试室，自2026年4月起作为租赁服务提供。

• 2026

  更新ESD试验装置，并开设公司内部ESD试验测试室，自2026年4月起作为租赁服务提供。

• 1996

  获得与ESD相关的东京都表彰。

• 1991

  在VEC个别保证下，开发出面向器件及电子元器件测试的CDM测试仪“ESPIER1000”。

• 1990

  在VEC个别保证下开发出FACT IV；开发出AC参数自动测量系统“TECP-8”。

• 1987

  开发出闩锁测试仪。

• 1985

  资本增至1600万日元。

• 1984

  推出LSI静电破坏（ESD）评价系统。

• 1983

  资本增至1200万日元。

• 1978

  资本增至800万日元。

• 1977

  7月19日在东京创立，资本400万日元；最初作为美国Autek System和Interface Technology公司的日本代理商，并开始系统产品开发。

以工匠精神为理念，长期服务于半导体和电子元器件制造商，专业提供ESD对策、高压/高速脉冲测量仪器及半导体可靠性测试设备。

• M1100-CDM

  全自动CDM测试仪，最大施加电压4000V，适用于IC。

• LUP-64

  闩锁测试仪，64引脚，最大施加电压8000V，适用于IC和模块。

• M1100

  全自动ESD/CDM/闩锁测试仪，内部128引脚、外部256引脚，最大8000V，适用于IC和模块。

• M1200

  全自动ESD/CDM/闩锁测试仪，适用于IC和模块。

• M7000B / M7000XB

  多引脚高速测试仪，内部256/512引脚、外部512/1024引脚，最大8000V，适用于多引脚IC。

• Ecdm-100EC / Ecdm-400EC / Ecdm-800EC

  ESD/CDM/TLP模拟器，最大1000V/4000V/8000V，适用于MR磁头、半导体电子元器件。

• Ecdm-400SW / Ecdm-400SC / Ecdm-400S-AUTO / Ecdm-800S-AUTO / Ecdm-400S-TLP

  ESD/CDM/TLP模拟器，适用于晶圆、片式元件、LED电子元器件及半导体电子元器件。

• TLP测试仪型号4002/4012

  全球首款商用TLP测试系统，内置泄漏测量功能，具备超高速回跳（snap-back）测量。

• CMR测试仪型号6250

  dv/dt高压脉冲发生器，脉冲输出电压±100V至±1.5KV，dv/dt可选1KV/us至30KV/us。

• 手动晶圆探针台型号SE-1000/6003

  X-Y载台移动量X轴200mm、Y轴200mm；X-Y副载台移动量φ305mm；样品台旋转粗动180°、微动10°。

• ESD事件检测器EV-10A系列

  检测ESD和DCI（动态感应带电）事件并向电脑收集数据；灵敏度约为以往机型的10倍，带宽2GHz；也可单独使用。

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